|
加速寿命试验条件绝对温度(°k) 活化能Ea定义： 是分子与化学或物理作用中需具备的能量，单位为eV (electron-Volts)。用以超越阻隔潜在故障与实际失效所需的能量。 活化能高，表示对温度变化影响比较显著。当试验的温度与使用温度差距范围不大时，Ea可设为常数。 一般电子产品在早夭期失效的Ea为0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趋近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。 根据Compaq可靠度工程部（CRE）的测试规范，Ea是机台所有零件Ea的平均值。如果新机种的Ea无法计算，可以将Ea设为0.67eV，做常数处理。 3、加速因子计算范例: 展开剩余79%例1：Ea=0.50eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k，Ta=40℃+273=313°k AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.540817563 例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k，Ta=40℃+273=313°k AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1.478396175/ 4、MTBF计算范例: 例1：某机型为例：30台样品，信心度为0.6，MTBF目标值为240000小时，用户使用温度为35度，测试温度为40度。 （1）假设在测试结束前不失效，求总的运行时间T及MTBF测试要用的天数D。 解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=0， X2(α,2r+2)=1.83 240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h D=T/(30*24)=148748.88/720=206.60天 （2）假设在测试11天后，有一台失效，不替换失效样品，即29台接着测试，求继续测试时需要的总时间t及MTBF测试要用的天数d。 解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04 注意：此时总的运行时间T=11*24*30+t ，因为此时已经测了11天 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天 D=d+11=460.31 + 11=471.31天 （3）假设在测试11天后，有一台失效，替换失效样品，即仍然是30台接着测试，求继续测试时需要的总时间t及MTBF测试要用的天数d。 解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04 a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天 b: 此时总的运行时间T=11*24*30+t ，因为此时已经测了11天 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天 D=d+11=444.97 + 11=455.97天 MTBF测试，Burn-in测试，ALT区别: 图片 Burn-in：“老化”测试，指产品在规定的应力条件下，使其特性达到稳定的方法。 ALT：Accelerated life test，加速寿命测试，是在超过使用环境条件的应力水平下对样品进行的寿命试验。 发布于：广东省 |
